Optikai emissziós összetétel-elemzés és XRF elemzés
A fémek összetételét spektrometriai módszerrel mérjük labor vagy helyszíni körülmények között, mely alkalmas arra, hogy az anyagösszetétel mellett a néhány ppm-es szennyező anyagokat is kimutassa. Az XRF-el pedig gyorsan, roncsolás menteses mérhető fém, műanyag, kerámia, de még talaj fémszennyezettsége is.
Gyakran szükség van arra, hogy ismerjük egy alkatrész pontos kémiai összetételét. Van olyan eset azonban, mikor laboratóriumi vizsgálatra nincs lehetőség, vagy nem lehet mintát venni az anyagból és vizsgálatra küldeni. Az ilyen rejtély felderítésére áll rendelkezésünkre az optikai emissziós spektrometria (OES), és a röntgen fluoreszcencia (XRF). Előbbi során a minta egy kis mennyiségét laboratóriumban hevítjük. Ahogy elpárolog, kibocsát egy, az anyagra jellemző spektrumot, amit mérve megmondható, milyen alapanyagokból áll a mintánk. Az OES vizsgálatot aprólékos minta-előkészítés előzi meg. Az XRF során röntgensugárzással gerjesztjük a mintát, mely egy anyagra jellemző sugárzással válaszol – ennek spektrumát megmérve képesek a készülékek megmondani, miből áll a minta. Ez a fajta mérés akár terepen is alkalmazható, gyors, és nem roncsolja a mintát.
XRF%20Testing.jpg" alt="" />
